新刊書籍「半導体製造における洗浄技術」が2024年12月2日に発売!洗浄の先端を知る研究者・技術者が各視点から最新の半導体洗浄技術を解説。

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株式会社シーエムシー出版 プレスリリース:2024年11月28日 報道関係者各位

新刊書籍「半導体製造における洗浄技術」が2024年12月2日に発売!洗浄の先端を知る研究者・技術者が各視点から最新の半導体洗浄技術を解説。

株式会社シーエムシー出版(本社:東京都千代田区神田錦町1-17-1、代表取締役:金森洋平)は、半導体洗浄技術の最新動向について詳述した書籍『半導体製造における洗浄技術(監修:羽深等/反応装置工学ラボラトリ)』(定価:税込71,500円)を、2024年12月2日に発売いたします。本書籍は、当社ECサイトおよび全国の書店にてご購入いただけます。

目次などの詳細については以下をご覧ください。詳細を見る

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刊行にあたって

半導体洗浄には永遠の課題が幾つも存在している。例えば、表面に露出している多種類の物質を同時に洗わなければならないし、微細化が進めば狭い溝の奥まで洗うことになり、課題が高度化する。その際、誘電率がさらに低い絶縁膜を採用したり、電子を素早く動かすために新たな元素を追加すれば、それに合わせた洗浄も考えなければならない。従来から、電子デバイスを作る際の洗浄回数は夥しく多いので、コストと時間を抑える課題に終わりはない。今後、電子デバイスの微細化・高機能化が進むにあたり、さらに多種類の元素・物質を使うようになると予想されることから、適切な洗浄技術を持つことが半導体技術の発展に直結すると考えるべきである。(本書「はじめに」より抜粋)

著者羽深 等 反応装置工学ラボラトリ飯野秀章 栗田工業(株)田中洋一 栗田工業(株)篠村尚志 JSR(株)山下耕司 ステラケミファ(株)服部 毅 Hattori

Consulting International樋口鮎美 (株)SCREENセミコンダクターソリューションズ泉妻宏治 グローバルウエーハズ・ジャパン(株)

河瀬康弘 三菱ケミカル(株)清家善之 愛知工業大学;la quaLab合同会社根本一正 (国研)産業技術総合研究所クンプアン ソマワン

(国研)産業技術総合研究所原 史朗 (国研)産業技術総合研究所;(一社)ミニマルファブ推進機構宮崎紳介 (株)ダン・タクマ平井聖児 ものつくり大学堀内 勉

ものつくり大学高橋常二郎 (株)資源開発研究所堀邊英夫 大阪公立大学山内 守 (株)レクザム山崎克弘 Shibaura Technology

International Corporation長嶋裕次 芝浦メカトロニクス(株)長谷川浩史 (株)カイジョー庄盛博文 (株)ジェイ・イー・ティ阿部文彦

HUGパワー(株)谷島 孝 (一社)ミニマルファブ推進機構中西基裕 (株)リガク太田雄規 (株)リガク川端克彦 (株)イアス目次第1章

半導体製造プロセスを支える洗浄技術1 大口径化と微細化2 洗う理由3 前工程と洗浄4 装置,薬液と乾燥5 洗う面積6 地球環境への影響と貢献7 まとめ第2章

半導体洗浄液の動向1 機能性洗浄水2 半導体向け機能性洗浄剤3 超高純度フッ化水素酸第3章 半導体製造プロセスを支える洗浄・クリーン化・乾燥技術1

シリコンウェーハ洗浄技術の過去・現在・未来2 半導体ウェット洗浄技術の基礎と最先端技術3 シリコンウェーハにおける洗浄技術の重要性とその動向4

先端半導体デバイスのCMP後洗浄技術と表面状態の評価5 次世代半導体デバイスのための物理的洗浄技術:スプレー、超音波、そして次世代の洗浄技術6

表面張力を利用するスピンドロップレット洗浄技術7 マイクロバブルの半導体洗浄への応用8 オゾンマイクロバブルによる半導体フォトレジストの除去メカニズム9

レジスト除去技術―湿潤オゾン装置を用いたレジスト除去―10 レジスト除去技術―イオンビーム照射レジストに対する湿潤オゾンによる除去―11

レジスト除去技術―水素ラジカル装置を用いたレジスト除去―12 レジスト除去技術―酸素マイクロバブル水による芳香族分解―13

超臨界二酸化炭素(SCCO2)を用いた次世代半導体洗浄技術14 半導体ウェハの超臨界乾燥技術第4章 半導体製造プロセスを支える洗浄装置1

高品質なシリコンウェーハ基板製造に寄与する枚葉式洗浄装置2 微細パーティクルを効率的に除去する超音波洗浄機3

高温処理ウエットステーションの現在地と未来~Batch式からHTSの系譜~4 蒸気2流体洗浄と高温高濃度オゾン水洗浄について5

ミニマルファブで用いる超小口径のハーフインチウェハ製造における洗浄技術第5章 半導体洗浄の評価・観察・解析1 半導体洗浄における洗浄機内の流れとメカニズム2

全反射蛍光X線分析による半導体ウェーハの汚染分析3 ICP-MSを用いた半導体ウェーハ中の極微量金属不純物の分析方法 当リリースの詳細について

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